- [檢測(cè)百科]分享：AgCuV合金導(dǎo)電滑環(huán)內(nèi)部缺陷產(chǎn)生原因分析2023年05月24日 09:20
- AgCuV 合金導(dǎo)電滑環(huán)在進(jìn)行超聲檢測(cè)時(shí)發(fā)現(xiàn)有內(nèi)部缺陷的存在.采用化學(xué)成分分析、 超聲檢測(cè)、金相檢驗(yàn)、掃描電鏡及能譜分析等方法對(duì) 缺 陷 產(chǎn) 生 的 原 因 進(jìn) 行 了 分 析.結(jié) 果 表 明: AgCuV 合金導(dǎo)電滑環(huán)經(jīng)超聲檢測(cè)發(fā)現(xiàn)的內(nèi)部缺陷是裂紋,脆性的含釩第二相與 AgCu合金基體的 結(jié)合力弱并且易碎,在應(yīng)力集中處產(chǎn)生了微裂紋,微裂紋沿著第二相與基體結(jié)合力弱的部位擴(kuò)展, 最終導(dǎo)致 AgCuV 合金導(dǎo)電滑環(huán)內(nèi)部缺陷的產(chǎn)生.
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